Leica DCM8 szub-nanométeres felületanalizáló rendszer. Dual Core technológia – interferométer és konfokális 3D mérőmikroszkóp, amely minta előkészítést nem igénylő és roncsolásmentes analízist tesz lehetővé. Kiváló 3D képek készítésére, megjelenítésére, 3D képanalízisre és interferometrián alapuló felületi érdeségmérésre (0.1nm-es Z-irányú felbontással). A Leica DCM8 egy sokoldalú és megbízható mérőplatform, könnyen reprodukálható eredményekkel.
További információ a termékről a gyártó weboldalán
